蔡司Crossbeam 550高分辨率掃描電子顯微鏡

蔡司Crossbeam 550高分辨率掃描電子顯微鏡

蔡司Crossbeam 550是一款結(jié)合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）和新一代聚焦離子束（FIB）的雙束掃描電子顯微鏡。該設備不僅具備出色的成像和分析性能，還擁有優(yōu)異的加工能力。

蔡司Crossbeam 550通過樣品臺減速技術（Tandem decel）實現(xiàn)低電壓電子束分辨率提升高達30%，使得即使在非常低的加速電壓下也能獲得高分辨率、高對比度和高信噪比的清晰圖像。這種技術對于研究材料的表面結(jié)構(gòu)和性質(zhì)具有重要意義，可以為用戶提供更準確的實驗結(jié)果。

此外，蔡司Crossbeam 550還具備出色的三維空間分辨率，能夠在二維表面成像和三維重構(gòu)方面提供優(yōu)異的表現(xiàn)。通過Inlens EsB探測器，該設備可以獲取純的材料成分襯度信息，從而表征不導電樣品而不受荷電效應的影響。這使得蔡司Crossbeam 550在材料科學、生物醫(yī)學和納米技術等領域具有廣泛的應用前景。

在聚焦離子束（FIB）方面，蔡司Crossbeam 550采用了智能的刻蝕策略，使得材料移除速率可提升高達40%。同時，該設備采用了大離子束束流和高達100nA的離子束束流，可以顯著節(jié)約時間，并獲得高分辨率的FIB束斑形狀。這使得蔡司Crossbeam 550在樣品制備和加工方面具有很高的效率。

蔡司Crossbeam 550高分辨率掃描電子顯微鏡

總的來說，蔡司Crossbeam 550是一款功能強大、高分辨率掃描電子顯微鏡，具有出色的成像、分析和加工能力。它適用于各種材料科學和生物醫(yī)學領域的研究，為科研工作者提供了強大的實驗工具。